一、为什么打样阶段要做首件检验
| 跳过 FAI 的风险 | 真实后果 | 成本 |
|---|---|---|
| 首批就全批放行 | 尺寸系统性超差 | 整批返工 |
| 只抽查个别件 | 缺陷批漏检 | 装配失败 |
| 加工参数未固化 | 后续件漂移 | 批次不一致 |
| 图纸理解偏差 | 全批同错 | 重做重来 |
| 材料状态未核对 | 性能不符预期 | 试用不通过 |
这张表先讲清一件事：首件检验的价值是「用小成本挡住大批量风险」——先把第一件确认到位，再固化参数批量做，避免系统性超差与全批同错。PEEK 单价高，跳过 FAI 的代价特别大。
二、首件确认查什么
| 确认项 | 内容 | 依据 |
|---|---|---|
| 关键尺寸 | 图纸标注与关键特性 | 图纸/公差表 |
| 外观 | 缺料/毛刺/气孔/划伤 | 外观标准 |
| 材料状态 | 牌号/批号/颜色一致性 | 牌号书 |
| 形位公差 | 平面度/垂直度/同轴度 | 图纸 GD&T |
| 功能特征 | 螺纹/配合面/装配试装 | 装配要求 |
| 记录 | 实测数据与判定 | FAI 报告 |
确认原则：首件不只看「能不能装上」，而是逐项对图纸与要求——关键尺寸全测、外观全检、材料状态先核对、必要时试装配。所有数据留档，形成 FAI 报告。
三、尺寸与外观的确认方法
- 关键尺寸全测：首件对图纸所有标注尺寸实测，重点测关键特性与配合尺寸，见 peek-prototyping-tolerance-measurement。
- 形位公差：平面度、垂直度、同轴度等在 PEEK 上受应力与装夹影响大，需按图纸方法测并留记录。
- 外观全检：逐面查缺料、毛刺、气孔、划伤、色差，PEEK 材料色差有时反映材料或工艺问题，要记录。
- 试装与功能：有配合或装配要求的件做试装，验证螺纹、卡扣、配合间隙是否满足功能。
四、流程与记录
- 先固化图纸与公差：首件前确认图纸版本与公差接受标准到位，避免边确认边改图，见 drawing-tolerance-prep。
- 首件自检 + 送检：加工方自检合格后送首件，附测量数据与说明，双方对判定口径达成一致。
- 确认后放行：首件通过才批量后续件，参数固化不随意调整；首件未过则整改重做首件，不带病批量。
- 记录归档：FAI 报告与实测数据归档，作为批量验收与后续争议的基准，见 inspection-acceptance。
五、与检验/测量/图纸页的边界（S12 攻坚）
- 边界：本文只讲 PEEK 打样的「首件检验（FAI）确认」；批量检验验收见 peek-prototyping-inspection-acceptance，公差测量方法见 peek-prototyping-tolerance-measurement，图纸与公差准备见 peek-prototyping-drawing-tolerance-prep，下单流程见 peek-prototyping-order-process，四者互补。
- 协同：图纸页定标准 → 首件按本文确认 → 批量按检验页验收 → 测量页提供方法与数据口径。
- 配套判断：能否讲清「首件是小成本挡大风险」，而非只看能不能做出来。小批量 PEEK 打样主词即 peek-prototyping。
材料选型咨询：说明工况（介质 / 温度 / 压力 / 精度）、材料与形态需求、合规要求，特瑞思给出材料与牌号建议。咨询 15995882335 / sztruis@163.com。进入选材技术问答 或材料供应
合规与说明
- ROHS / REACH / 食品医药合规等以企业出具的最新有效证书为准；代理进口牌号以原厂牌号书与技术文件为准。
- 温度、力学与耐化学等性能为常规参考值，最终以对应牌号书与零件工况验证为准。
- 本页为技术选型参考，不构成对任何品牌的背书或对比结论；对比以真实基准与可验证数据为前提。
- 涉及风电设备、半导体工艺设备等特殊用途的，须由具备相应资质的持证方完成，材料供应方不替代设备设计审查、认证与使用责任。
常见问题（FAQ）
Q：PEEK 打样为什么要做首件检验？
A：因为 PEEK 材料贵、加工难、返工成本高，而小批量打样常面临「第一批做完就放行」的诱惑。首件检验（FAI）在批量前先确认第一件，逐项对图纸核对关键尺寸、外观、材料状态与形位公差，确认无误再固化参数批量做。这样能用很小的时间成本挡住整批返工、全批同错这类大风险，也让后续批量验收有基准。
Q：首件检验要查哪些项目？
A：六项：关键尺寸（图纸标注与关键特性，全测）、外观（缺料/毛刺/气孔/划伤/色差）、材料状态（牌号、批号、颜色一致性）、形位公差（平面度/垂直度/同轴度等）、功能特征（螺纹、配合面、必要时试装）、记录（实测数据与判定结论）。关键是首件不只判「能不能装上」，而是逐项对图纸与要求，所有数据留档形成 FAI 报告。
Q：首件不合格怎么办？
A：整改后重做首件，不带病批量。具体做法：先定位不合格原因（尺寸系统性超差多为加工参数或装夹问题，外观缺陷多为刀具或工艺问题），调整参数与工装后重新做首件，再次送检验证，通过后才放行后续件。同时把调整内容记录进档案，避免批量中参数漂移。首件不过就不能进入批量，这是 FAI 的硬规则。
Q：PEEK 首件测量要注意什么？
A：PEEK 是半结晶工程塑料，受应力、装夹与温度影响，测量要留意三点：一是装夹力不要过大，避免弹性变形导致读数偏差；二是形位公差（平面度、垂直度、同轴度）易受切削应力释放影响，必要时放置后再测；三是关键尺寸全测而非抽查，并按图纸规定的测量方法与基准。数据要与零件一一对应留档，形成 FAI 报告，见 peek-prototyping-tolerance-measurement。
Q：首件检验和批量验收页什么关系？
A：前后衔接：图纸页（peek-prototyping-drawing-tolerance-prep）先定图纸版本与公差接受标准；本文（first-article-inspection）做批量前的首件确认；批量验收页（peek-prototyping-inspection-acceptance）做后续件的检验与收货判定；公差测量页（peek-prototyping-tolerance-measurement）提供测量方法与数据口径。顺序：定标准 → 验首件 → 批量验收 → 测量留证。主词即 peek-prototyping。
相关页面：PEEK 打样检验验收、PEEK 打样公差测量、PEEK 打样图纸与公差准备、PEEK 打样下单流程、PEEK 打样工艺路线。